Oberflächenanalytische Untersuchungen mit XPS
- Zusammensetzung der Oberfläche in den äussersten Atomlagen
- Tiefenprofile einzelner Elemente
- Ermitteln komplizierter Schichtsysteme
- Ursachen von (Lack-)Haftungsproblemen
- Anreicherungen oder Kontaminationen einzelner Elemente
- Analyse/Bestimmung möglicher Vorbehandlungen
- Bestimmung der Aluminiumoxidschichtdicke